高低測試箱環(huán)境可靠性高溫、低溫測試方法具體分析

高低測試箱環(huán)境可靠性高溫、低溫測試方法具體分析

環(huán)境可靠性高溫試驗:考核試驗樣品在高溫條件下的貯存或使用的適應性。高低溫測試箱

*試驗方法:

*溫度突變和溫度漸變;

*區分散熱樣品和非散熱樣品:

*散熱樣品試驗方法:Bd溫度漸變;

*非散熱樣品試驗方法:日b溫度漸變;

*帶電設備試驗方法:Be溫度漸變。

*沒(méi)有特別說(shuō)明加負載的試驗樣品，試驗采用高溫試驗方法Bb溫度漸變;

*中間檢測:一般不允許在測試過(guò)程中把樣品拿出試驗箱外進(jìn)行功能測試。功能測試應讓樣品保持在試驗箱里。

*恢復:zui少一個(gè)小時(shí)，zui長(cháng)不超過(guò)兩個(gè)小時(shí)。

*所有的功能測試必須在兩個(gè)小時(shí)內完成。

*參考標準:IEC60068-2-2; GB/T 2423.2

環(huán)境可靠性低溫試驗

*低溫試驗:考核試驗樣品在低溫條件下的貯存或使用的適應性。

*試驗方法:

*溫度突變和溫度漸變;

*區分非散熱樣品和散熱樣品:試驗樣品溫度達到穩定后，在自由空氣條件(即沒(méi)有強迫空氣循環(huán))下溫量時(shí)，樣品表面zui熱的點(diǎn)溫度高于周?chē)髿鉁囟?K以上的，認為是散熱樣品。

*非散熱樣品試驗方法:Ab溫度漸變;

*散熱樣品試驗方法:Ad溫度漸變;

*帶電設備試驗方法:Ae溫度漸變。

*沒(méi)有特別說(shuō)明加負載的試驗樣品，試驗采用低溫試驗方法Ab溫度漸變;

*中間檢測:一般不允許在測試過(guò)程中把樣品拿出試驗箱外進(jìn)行功能測試。功能測試應讓樣品保持在皓天設備環(huán)境試驗箱里。

*恢復:zui少一個(gè)小時(shí)，zui長(cháng)不超過(guò)兩個(gè)小時(shí)。所有的功能測試必須在兩個(gè)小時(shí)內完成。

*也可以設置溫度漸變的方法把試驗箱里的溫度組緩慢的恢復到室溫后再取出樣品，避免樣品產(chǎn)生凝露。

*參考標準:I EC60068-2-1;G BIT 2423.1