高低溫老化試驗箱半導體材料穩定性測試

高低溫老化試驗箱半導體材料穩定性測試

高低溫老化試驗箱簡(jiǎn)介

高低溫老化試驗箱簡(jiǎn)介

高低溫老化試驗箱是一種模擬溫度環(huán)境變化的試驗設備，主要用于測試材料在高溫、低溫、濕度等環(huán)境條件下的性能表現。它具有溫度范圍寬、控溫精度高、可編程控制等特點(diǎn)，能夠模擬各種實(shí)際應用場(chǎng)景下的溫度變化，為材料性能測試提供可靠的實(shí)驗條件。

性能參數：

型號：SME-80PF

溫度范圍：-70～150℃  

內箱尺寸：W400*H500*D400mm

外箱尺寸：W660*H1480*D930mm

皓天設備恒溫恒濕試驗箱系列溫度范圍分別為：

1、A：0～150℃、B：-20～150℃、C：-40～150℃、D：-60～150℃、E：-70～150℃

2、濕度范圍:20~98%RH(溫度在25℃~80℃時(shí))

測試范圍  

 升降溫速率：1.0～1.5℃/min  

機器精度  

控制精度

:溫度：±1.0℃  

濕度：±1.5%R.H。  

• 均勻度：    溫度：≤±2℃

           濕度：±2%R.H  

不銹鋼內膽，噴塑鋼板外殼，聚胺脂泡沫保溫
設有大視角觀(guān)察窗、照明燈
外置智能霧化器加濕，可大容量補充加濕
*的不銹鋼循環(huán)風(fēng)道，強迫空氣循環(huán)，溫度均勻
具有超溫保護系統

本產(chǎn)品可根據顧客要求進(jìn)行訂做,售后服務(wù)：保修二年，終身保固！

高低溫老化試驗箱半導體材料穩定性測試

SME-80PF高低溫老化試驗箱的特點(diǎn)

1. 溫度范圍寬：SME-80PF高低溫老化試驗箱的溫度范圍為-70℃～200℃，能夠滿(mǎn)足各種溫度環(huán)境下的測試需求。
2. 控溫精度高：該設備的溫度控制精度為±0.5℃，能夠保證實(shí)驗結果的準確性和可靠性。
3. 可編程控制：用戶(hù)可根據實(shí)驗需求，對溫度、濕度等參數進(jìn)行編程控制，實(shí)現各種復雜的溫度變化曲線(xiàn)。
4. 大容量樣品架：該設備配備了多個(gè)樣品架，可同時(shí)測試多個(gè)樣品，提高實(shí)驗效率。
5. 自動(dòng)檢測系統：設備具備自動(dòng)檢測功能，能夠實(shí)時(shí)監測樣品的狀態(tài)，確保實(shí)驗過(guò)程的順利進(jìn)行。
6. 安全保護措施：為了保障實(shí)驗人員的安全和設備的正常運行，該設備配備了多項安全保護措施，如過(guò)溫保護、漏電保護等。

系半導體材料穩定性測試的重要性

半導體材料在高溫、低溫、濕度等環(huán)境條件下容易發(fā)生性能退化，如電學(xué)性能下降、機械性能變差等，這將對半導體器件的可靠性產(chǎn)生嚴重影響。因此，對半導體材料進(jìn)行穩定性測試是十分必要的。通過(guò)測試，可以了解材料在不同環(huán)境條件下的性能表現，預測其使用壽命，為半導體器件的可靠性設計和優(yōu)化提供依據。