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冷熱沖擊試驗箱周期穩定
簡(jiǎn)要描述：冷熱沖擊試驗箱周期穩定用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無(wú)一不需要它的理想測試工具。
產(chǎn)品型號： TSD-80F-2P
所屬分類(lèi)：二箱式冷熱沖擊試驗箱
更新時(shí)間：2024-07-02
廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
冷熱沖擊試驗箱周期穩定
執行與滿(mǎn)足標準
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗方法；
2、GB/T2423.2-1989高溫試驗方法；
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗；
5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗；
6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式
9、滿(mǎn)足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則
11、GB/T 2423.22-2002溫度變化
12、QC/T17-92汽車(chē)零部件耐候性試驗一般規則
13、EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估
皓天冷熱沖擊試驗箱圖片：
冷熱沖擊試驗箱周期穩定
樣品隔層架對試驗物的承重量：2.5kg以?xún)?，如有超重的測試物請下單時(shí)注明。
高溫上升時(shí)間約：40min
低溫下降時(shí)間約：80min
高溫槽溫度zui高可儲存至：60℃~200℃
低溫槽溫度zui低可儲存至：-70℃~-10℃
溫度移動(dòng)沖擊時(shí)間在：10秒鐘內
溫度沖擊恢復穩定時(shí)間在：3~5分鐘內
此設備分為高溫區、低溫區、測試區三部分，測試樣品*靜止。采用*之蓄熱、蓄冷結構，
強制冷熱風(fēng)路切換方式導入測試區，完成冷熱溫度沖擊測試。
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