高低溫試驗箱廠(chǎng)家半導體性能穩定程度檢測

產(chǎn)品用途：

濕熱試驗箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫、濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時(shí)的適應性試驗；是各類(lèi)電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)試驗。

符合標準：
濕熱試驗箱性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)

皓天實(shí)物圖片展示：

安全保護系統:
無(wú)熔絲開(kāi)關(guān)，防干燒裝置，極限高低溫保護，溫度偏差報警，壓縮機超壓、過(guò)載、過(guò)電流保護，缺相、逆相、短路、漏電保護。

高低溫試驗箱廠(chǎng)家半導體性能穩定程度檢測

性能指標:    
1.溫度范圍: A:0℃～150℃，B:-20℃～150℃，C:-40℃～150℃，D:-60℃～150℃，E:-70℃～150℃ 
2.溫度波動(dòng)度: ≤±0.5℃
3.溫度均勻度：≤±2℃
4.濕度范圍：20～98％R.H
5.濕度偏差：±3%R.H
6.濕度波動(dòng)：±2.5%R.H
7.精度范圍: 溫度：設定精度±0.1℃，指示精度±0.1℃，解析度±0.1℃；濕度：設定精度±1％R.H，指示精度±1％R.H，解析度±1％R.H
5.升溫速率: 1.0～3.0℃/min 
6.降溫速率: 0.7～1.0℃/min